半导体分立器件综合测试仪，全部智能化 ，可测J MOS型场效应管.三极管.二极管.齐纳管.可控硅.三端电源各种直流参数,带接口.
标配附件：
1.同轴引线的二极管测试夹
2.TO-220.202.237.126.92的测试夹
3.TO-5.18.39.205MA的测试夹
4.TO-3.66.204MA的测试夹
可选附件：1200伏高压适配器. 价格：31790元
主要特点
本仪器是美国IST公司最新研制的产品(IST880的升级换代产品)，采用Z80芯片，微机控制，液晶显示其测试条件及测量结果，可用于晶体三极管，二极管，齐钠二极管，J型场效应管，可控硅管，三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试，并可自动进行合格/不合格判断，对器件进行分选。本仪器并配有RS-232串联接口和IEE-488接口，可配接电脑数据记录仪仪打印机，打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的预置测试条件进行存储。关机后仍可保存在机内，以备下一次的使用。
性能指标：
（一）
* 三极管 Icbo Iceo Ices Iebo Icev
电流 电压 分辨率 误差
0 200.0 nA 0 600V 0.1nA ±2%
0 200μA 0 600V 1 nA ±1.5%
0 200.0μA 0 600v 1.1μA ±1%
0 20.00mA 0 500V 10μA ±1%
* 三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev
电压 电流 分辨率 误差
0 600V 0 30mA 3V ±1%
0 30V 0 200mA 0.1V ±1%
* 三极管 Vve(sat)Vbe(sat)
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A 2mV ±2%
0 2V 0 1A 1mV ±2%
* 三极管 hFE
量程 分辨率 误差
hFE 0 5000 1 ±2%
Vce 0 20V
Ic 0 5A
Ib 0 1A
（二）
* 二极管Ir
电流 电压 分辨率 误差
0 200.0 nA 0 600V 0.1nA ±2%
0 200.0μA 0 600V 1 nA ±1.5%
0 2.00μA 0 600V 0.1μA ±1%
0 20.00mA 0 500V 10μA ±1%
* 二极管BVr
电压 电流 分辨率 误差
0 30V 0 200mA 0.1V ±2%
0 600V 0 20mA 3V ±2%
* 二极管Vf
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A 2mV ±2%
(三)
* 稳压二极管BVz
电压 电流 分辨率 误差
0 300V 0 30mA 1V ±1%
0 60V 0 200mA 0.3V ±1.5%
0 40V 0 1mA 0.1V ±1%
* 稳压二极管Izr
电流 电压 分辨率 误差
0 500mA 0 30V 2mA ±1%
0 100mA 0 60V 0.4mA ±1%
0 20mA 0 250V 80nA ±2.5%
* 稳压二极管Vzr
电流 电压 分辨率 误差
0 300V 0 30mA 1V ±1%
0 60V 0 200mA 0.3V ±1.5%
0 40V 0 1A 0.1V ±1%
* 稳压二极管Vzf
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A 2mv ±1%
四
* J/M型场效应晶体管Idss
电流 电压 分辨率 误差
0 0.2A 0 30V 10μA ±2%
0 30mA 0 300V 1μA ±2%
* J型场效应晶体管Igss
电流 电压 分辨率 误差
0 20.00mA 0 30V 10μA ±2%
0 200.0μA 0 30V 0.1μA ±1.5%
0 2.00μA 0 30V 1nA ±1.5%
0 200.0nA 0 30V 0.1nA ±1.5%
* J型场效应晶体管BVgss
电压 电流 分辨率 误差
0 300V 0 30mA 1v ±2%
0 30V 0 200mA 0.2v ±1.5%
* J型场效应晶体管gm
量程范围 分辨率 误差
0.5 200mMHO 0.04mMHO ±4%
0 100.00μA 0 40V 50nA ±3%
五
* 可控硅整流器件及双向可控硅开关器件Vgt Igt
电压 电流 分辨率 误差
0 40V 0 20mA(可控硅整流器件) 0.2V ±1%
0 1A (双向可控硅开关器件)0.2V ±1%
* 可控硅整流器件及双向可控硅开关器件Vgt Igt
电流 电压 分辨率 误差
0 100.00mA 0 40V 50μA ±1.5%
0 10.00mA 0 40V 5μA ±1.5%
0 1.00mA 0 40V 0.5μA ±2%
六 三端稳压电源集成块
量程范围 分辨率 误差
Vo 0 ±28V 0.1V ±2%
Iib 0 ±20mA 1μA ±2%
特别推荐 最新半导体分立器件测试仪BJ2939
该系统充分吸收国外先进测试系统的特点，采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及阵列开关结构技术，并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破，从而大大提高了系统的技术性能和可靠性，保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内领先的地位。
其特点是：侧重于中小功率器件、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性，很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低，在实际测试应用中各项技术指标均可真实达到手册技术要求。
系统采用方便易学的窗口菜单界面，在PC机窗口提示下，输入被测器件的测试条件，测试人员即可轻松快捷地控制系统，完成填表编程和开发测试程序、测试器件。操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。3分钟即可完成一种测试编程，编写完成后输入仪器即可测试。当然还可以在仪器下直接进行器件测试程序及条件的编写，方便灵活。系统和测试夹具均采用多级开尔文结构，自动补偿系统内部产生的任何压降，保证各种情况下测试结果的精度和准确性。
优良的品质、低廉的价格、周到的服务使得该系统在国内市场具有强大的竞争实力。“高端的品质、低端的价格、周到的技术支持、全方位的客户服务”是无仪美达产品对市场和对客户的永恒承诺。
系统具有的主要技术特征
采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS，符合国军标的规定
采用嵌入式计算机控制，实现脱机运行；
16位并行D/A、A/D设计，测试速度快、精度高；
采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确；
采用三级保护技术，系统可靠，对被测器件无损伤；
丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力、方便的用户信息文件、统计文件方式；
晶体三极管自动NPN和PNP 判别能力，防止选错类型；
二极管极性自动判别选择，用户测试二极管不必注意极性；
完整的自检/自校准能力；
测试系统需要的其它多种数据后处理能力；
