存储器属数字器件。除了测试代码很长之外，其它与数字逻辑器件基本相同，所以测试处理也大致相同。使用本功能可对3000余种存储器件，在线/离线下进行存储功能测试。
     8.1 基本测试方法
     1．对于只读存储器（PROM,EPROM）
     事先从好的、存储有同样内容的器件中，读出所存储的内容，存成数据文件，作为测试的参照标准。该过程叫做学习；
     读出被测器件中的内容，于相应的数据文件进行逐字节比较，完全一致说明被测器件物故障；否则详细显示出错地址、该地址中的正确内容和当前出错内容。该过程叫做比较。
     2．对于读写存储器（SRAM,DRAM）
     向某地址中写入01010101，读出后检查；再写入10101010，读出后检查。两次检查都正确，说明该存储单元功能正常。
     如果存储器中存有内容，测试后将被修改，所以对于用电池支持的SRAM存储器，除非有办法恢复原有内容，否则不能使用本功能进行测试。
     3．完全测试
     检查每一个存储单元。
     4．快速测试
     从存储器的全部地址单元中，按一定算法选取其中若干单元进行测试。
     8.2 测试功能
     1．读写存储器（SRAM,DRAM）
     1）离线“完全测试”；
     2）在线“快速测试”；
     3）在线“完全测试”；
     2．只读存储器（PROM,EPROM）
     1）离线“空白检测”；
     2）离线“完全学习”；
     3）离线“完全比较”；
     4）显示离线“完全学习”内容；
     5）转换离线“完全学习”内容；
     将内容转换成*.bin文件用于烧写。
     6）在线“快速学习”；
     7）在线“快速比较”；
     8）显示在线“快速学习”内容；
     9）在线“完全学习”；
     10）在线“完全比较”；
     11）显示在线“完全学习”内容；
     12）转换在线“完全学习”内容
     将内容转换成*.bin文件用于烧写。
注意界面中以反汇编形式显示的学习内容。