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使用内置波形发生器的示波器进行元器件测试
【来源】本站 【日期】2011/7/29

本文说明了使用示波器波形发生器元器件进行测试的方法。将展示电容、电感、二极管、双极晶体管及电缆的测试过程。这些测试方法可用于确定故障部件或识别无标注元器件的作用。

 

测试配置

 

本测试案例的基本理念是通过波形发生器在该元器件上施加一个激励,并通过示波器测量它的响应。安捷伦InfiniiVision X系列示波器采用内置波形发生器,可为元器件测试提供便利的“一体化”解决方案。应当注意的是,示波器不能完全替代专用的元器件测试仪,后者能提供更高的精度和更全面的测试。然而在实际测试中,一般没有现成的专用测试仪。在这种情况下可以选择使用较为常见的设备来测试元器件,以作权宜之计。本例涉及到了示波器和波形发生器。

 

图1显示了测量配置。波形发生器连接到示波器输入端,另一支路连接至被测件(DUT)。对于表贴元器件的测试,推荐使用安捷伦11060A(或相近产品)进行测试。通过波形发生器的50Ω内阻,对被测件施加电压。通过示波器输入通道测量被测件上的电压。该示波器受到波形发生器的触发。安捷伦X系列示波器内置了触发连接,无需使用额外的电缆连接和触发配置设置。用户只需选择波形发生器作为触发源即可完成触发。

 

 

使用内置波形发生器的示波器进行元器件测试(电子工程专辑)
图1:测试配置。

 

电容和电感测试

 

图2显示了示波器在没有连接被测件时的配置和测量。取平均法可以降低噪声进而提高精度。打开Min、Rise和Fall(10-90%)自动测量,触发点的位置设在左侧。

 

 

使用内置波形发生器的示波器进行元器件测试(电子工程专辑)
图2:电容和电感的测试与测量(未连接被测件时)。

 

使用一个10Hz、100mVpp的方波作为激励。针对被测件进行低电压在线测试,无需再连接偏置半导体器件。这种低电压测试还可以最大程度减少极化电容中可能会降低测量精度的反向泄漏电流。

 
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