课程性质、目的和要求
半导体器件物理课是微电子学，半导体光电子学和电子科学与技术等专业本科生必修的主干专业基础课。它的前修课程是固体物理学和半导体物理学，后续课程是半导体集成电路等专业课，是国家重点学科微电子学与固体电子学硕士研究生入学考试专业课。本课程的教学目的和要求是使学生掌握半导体器件的基本结构、物理原理和特性，熟悉半导体器件的主要工艺技术及其对器件性能的影响，了解现代半导体器件的发展过程和发展趋势，对典型的新器件和新的工艺技术有所了解，为进一步学习相关的专业课打下坚实的理论基础。

推荐仪器
1 晶体管综合参数测试仪  BJ2936
BJ2936晶体管综合参数测试仪采用主从式设计，配备大液晶显示器，可以独立工作；也可以使用计算机控制操作，使用更加方便；计算机与测试仪采用串行通信方式，并预留USB接口,使计算机不再受主板是否有AISA插槽的限制。在计算机上编写测试程序、显示程序，使软件界面更加友好，用户操作更加直观、方便。设置测试条件、测试流程控制、显示、打印等功能由计算机完成。
新测试仪具有自动判别晶体管极性的功能，根据被测管的极性加载测试条件，该仪器具有连续测试、跳跃测试、单参数测试以及晶体管的筛选四种工作方式；还可以储存不同型号晶体管的测试条件，用户再次测试曾测过的管子时不再需要重新输入测试条件。
系统在测试原理和方法上符合我国的国标、国军标和行标对集电极-发射极饱和压降、基极-发射极饱和压降和正向电流传输比等参数采用软件闭环的300uS脉冲测试，电流可达20A，可有效抑制测试造成的器件芯片温升，即使在上百瓦功率下进行测试也不会造成器件发热，从而确保测试数据的真实性和稳定性，同时也保证了被测器件的安全。系统全线采用开尔文四端法进行参数测试，从而有效扣除了系统及接触环节的接触压降，保证了大电流参数测试的真实性和精度。仪器高压源以通用运算放大器为基础，附加输出电压幅度提升电路进而获得稳定千伏级输出。系统提供TO-220、TO-3、TO-39等多种标准封装形式的测试适配器。
主要参数：
IEBO、ICBO、ICEO；  BVEBO、BVCBO、BVCEO；VBE（sat）、VCE（sat）；HFE

2 大功率晶体管特性图示仪 BJ4822
大功率双极型晶体管、VDMOS管、IGBT管广泛应用于军工、航天及电力工程领域。对于这些功率器件，其中图示法是一项非常重要的检测手段，可以直观地看到这些器件的各种特性曲线，弥补了点参数测试不能全面直观地观测功率器件的全工作范围特性曲线，并且能够清晰地看到器件的放大特性曲线是否具有良好的线性放大区。通用计算机控制系统的介入使用户方便地读取所关心的特性曲线区域中各个点的参数，这更有利于这些器件的研究、设计、制造和使用。还可随意存取被测器件的各种特性图。为生产厂家及用户提供了准确可靠的依据。BJ4822智能大功率半导体器件特性图示仪填补了国内大功率图示仪的空白，其环效补偿效果超过泰克371大功率图示仪，达到同行业该种测试仪器的国际先进水平。
目前在国内图示仪领域中主要以中小功率图示仪为主，还没有3000W测试功率的图示仪相关产品。传统图示仪智能化低，数据处理能力差，不能直观精确读取特性曲线区域中各点的参数值，通过引入计算机系统将问题得以解决，更便于用户操作使用。针对目前大功率器件的发展，该产品将测试功率提高到了3000W，最大测试电压3000V，最大测试电流400A。

3  场效应管综合参数的测试仪BJ3000
本仪器为测试场效应管综合参数的测试仪，可测Vgs（th）、Idss、Igss、Id（on）、BVgss、Rd、Gfs参数。本仪器是采用计算机控制的高智能化的测试仪器，具有测试速度快、操作灵活、使用方便特点，并能存储测试条件，存储、打印测试数据。
配合相应的软件可以测试三极管、二极管、可控硅等分离器件。因此可实现一台仪器代替多台仪器使用。
技术指标

 Idss   
量程范围 0~50A   
分辨率 0.1A　误差?Q±5%   
Rd(on)   
量程范围 10mΩ～10Ω   
分辨率 1mΩA　误差?Q±5%   
Gfs   
量程范围 0～30S   
分辨率 0. 1S　误差?Q±5%   
Igss   
量程范围 0~100nA   
分辨率 1nA　误差?Q±5%   
栅极电压 0~30V   
Vgs（th）   
量程范围 0~10V   
分辨率 0.01V　误差?Q±5%   
Id（on）   
量程范围 0-50A   
分辨率 0.5A 　误差?Q±5%   
BVgss   
栅极电压 0~30V   
分辨率 0.01V　误差?Q±5%